可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)踐培訓(xùn)班

可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)踐培訓(xùn)班(程春金)課程介紹：

   隨著 IT 行業(yè)電子產(chǎn)品的種類(lèi)日漸增多競(jìng)爭(zhēng)日趨激烈。所以如何把握好產(chǎn)品的質(zhì)量就成為最為重要的部分。硬件測(cè)試是電子產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié)如何將測(cè)試工作開(kāi)展的更全面、更仔細(xì)、更專(zhuān)業(yè)完善也是眾多電子企業(yè)所追求的目標(biāo)。本課程從測(cè)試的理論出發(fā)結(jié)合實(shí)際的產(chǎn)品測(cè)試經(jīng)驗(yàn)介紹了測(cè)試的目的、原理、流程和實(shí)際應(yīng)用操作并將測(cè)試同研發(fā)、銷(xiāo)售和公司的市場(chǎng)推廣進(jìn)行結(jié)合以更貼近企業(yè)的形式闡述了硬件測(cè)試在企業(yè)中的開(kāi)展方法。

● 課程收益：
 ◇ 深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本思想和基本原理
 ◇ 熟悉可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程
 ◇ 全面掌握可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法
 ◇ 有效構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺(tái)和貨架技術(shù)

● 課程內(nèi)容介紹：

一、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)概述
1、產(chǎn)品生命周期V模型 2、電子信息產(chǎn)品測(cè)試所面臨的問(wèn)題 3、什么是可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)
4、思考：如何深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT) 5、可測(cè)性的物理特征表述 6、可測(cè)性的測(cè)度形式
討論：以下各功能模塊的可測(cè)性測(cè)度是怎樣的？
7、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析 8、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素 9、IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
10、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本過(guò)程11、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語(yǔ)及縮略語(yǔ)

二、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
1、整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源 2、整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
3、單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源 4、單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
5、單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源 6、單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
7、單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來(lái)源 8、單板生產(chǎn)測(cè)試的抽象模型
思考：?jiǎn)伟迳a(chǎn)測(cè)試的目的是什么？
9、單板生產(chǎn)測(cè)試路線 10、單板生產(chǎn)工藝測(cè)試基本原理
11、單板生產(chǎn)功能測(cè)試基本原理 12、單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求
討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測(cè)試方案和路線是怎樣的？
13、JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用 14、JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
15、單板維修可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求
思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？

三、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
1、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制物理通道
2、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測(cè)試命令集
3、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制管理
4、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出
5、輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部?jī)x器輸入輸出接口
6、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
7、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯(cuò)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
8、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
9、內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成
10、能控性設(shè)計(jì)——測(cè)試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動(dòng)
11、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
12、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
13、能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
14、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
15、能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
16、BIST設(shè)計(jì)——通道分層環(huán)回
17、BIST設(shè)計(jì)——故障診斷
18、BIST設(shè)計(jì)——初始化自檢
案例解讀

四、單板可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
1、機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 2、自檢和自環(huán)設(shè)計(jì) 3、工裝夾具設(shè)計(jì) 4、測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì) 5、芯片控制引腳設(shè)計(jì) 6、邊界掃描測(cè)試設(shè)計(jì) 7、EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì) 8、如何設(shè)計(jì)以減少測(cè)試點(diǎn)
五、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
1、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
2、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
3、交流與探討：如何構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)

● 講師介紹：程春金
資深講師研發(fā)工程技術(shù)產(chǎn)線總監(jiān) APECG 測(cè)試工程首席專(zhuān)家 中國(guó)電子協(xié)會(huì) ATE 測(cè)試分會(huì)會(huì)員
工作經(jīng)驗(yàn)： 華為公司從事通訊產(chǎn)品可測(cè)試設(shè)計(jì)的研究及開(kāi)發(fā)工作，曾參與大型程控交換機(jī)、光通信產(chǎn)品、會(huì)議電視系統(tǒng)項(xiàng)目的可測(cè)試及可制造性工程實(shí)施，歷任華為中央硬件研發(fā)平臺(tái)部開(kāi)發(fā)經(jīng)理，兆天網(wǎng)絡(luò)中試部經(jīng)理等

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