電子元器件失效分析技術(shù)及經(jīng)典案例課綱
關(guān)鍵詞：電子元器件
課程簡(jiǎn)介：(李少平主講)
電子產(chǎn)品在不斷與失效作斗爭(zhēng)中提高可靠性，失效分析是與產(chǎn)品失效作斗爭(zhēng)的最有效的工具，通過(guò)對(duì)失效產(chǎn)品的失效分析，診斷失效產(chǎn)品的失效機(jī)理，以失效機(jī)理為引導(dǎo)，進(jìn)一步分析誘發(fā)失效機(jī)理的應(yīng)力，從而診斷引起產(chǎn)品失效的根本原因，最終，從產(chǎn)品失效的根本原因所涉及的因素（如產(chǎn)品的材料、結(jié)構(gòu)、工藝的缺陷，或產(chǎn)品使用不合理）入手，采取有針對(duì)性的措施，徹底消滅產(chǎn)品失效或有效控制產(chǎn)品失效。
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資料熱詞：電子元器件培訓(xùn)
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